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电子负荷装置
LSA-165
具有3.5''彩色液晶显示;具有CC/CP/CR/CV操作模式;外部控制功能;可选配GPIB/USB/RS-232C接口
多输入电子负荷装置
LW75-151QV7A
多输入通道电子负载;每个输入通道可独立控制;带有前面板接口的机型;感应补偿功能;可选配GPIB/USB接口。
LSG系列
LSG-175 350
LSG系列拥有单通道,有7种操作模式,CV(定电压),CC(定电流),CR(定电阻),CP(定功率),CC+CV,CR+CV,CP+CV。在CC和CR模式下,它的序列功能可以模拟各种动态负载特性。LSG系列序列功能允许通过指定的负载电流,上升/下降斜率,电流水平,持续时间和其他参数来编辑负载曲线。
IT8200系列 经济型数控电子负载
IT8200系列
IT8200系列 经济型数控电子负载具有最小的体积,广泛应用于产品生产线、维修等基础应用领域。该系列的分辨率为1mV/1mA,提供准确的测试结果。该系列具备可编程性能,并可快速调用4*40组记忆数据,面板功能按键和显示界面清晰明了,提供客户简捷的操作方案,轻松并快速的完成各种复杂测试。IT8200系列 经济型数控电子负载具备定电压、定电流和定电阻模式,以及短路测试的功能,是高性价比电子负载的首选产品。
IT8500系列 可编程直流电子负载
IT8500系列
IT8500系列 可编程直流电子负载在具有极佳性价比的同时具备多种操作模式和测试功能,满足客户多元化的测试需求:可编程List输出模式,定电压、定功率、定电流、定电阻模式,远端测量、短路测试、电池测试、动态测试功能。IT8500系列 可编程直流电子负载具备良好的低电压带载特性,提供高效率、高精度的测试解决方案,可选配USB/RS232/GPIB通讯接口。
IT8500+系列 可编程直流电子负载
IT8500+系列
IT8500+系列 可编程直流电子负载是单路输入可编程直流电子负载,拥有高密度体积,高分辨率和高精度,同时具有动态测试和自动测试等多种测试功能,IT8500+系列 可编程直流电子负载可应用于LED driver测试,开关电源测试,电池性能检测等多个行业领域,也可以提供标准SCPI通讯协议,方便组建智能化测试平台应用于多个行业。
IT8912E LED测试大功率可编程直流电子负载
IT8912E LED
IT8912E LED测试大功率可编程直流电子负载应用于仿真不同特性的LED灯,独特的硬件电路实现CR-LED模式,具有可调频率、占空比PWM调光输出口,应用于LED驱动电源的调光测试中。IT8912E LED测试大功率可编程直流电子负载的I-pp/I-max量测功能可以测试LED恒流源的电流脉动及开启瞬间的浪涌电流。该系列的电压/电流测量速度最高可达50KHz,提供CR-LED/CC/CV+CC/CR/CW等工作模式,内置USB/RS232/GPIB通讯接口,具有宽广的应用范围,尤其在LED领域的测试中具有独特优势。
IT8800系列 高速高精度可编程直流电子负载
IT8800系列
IT8800系列 高速高精度可编程直流电子负载拥有宽广的功率范围150W-10KW,电压电流测量速度均达到50KHz,测试分辨率可达0.1mV/0.01mA,测试电流上升速度0.001A/us~2.5A/us可调,且内置RS232/GBIP/USB通讯接口,参数指标非常优异。IT8800系列 高速高精度可编程直流电子负载产品稳定性高,应用行业宽泛,能满足各种测试需求,目前已经应用于多种要求苛刻的测试场所,例如LED照明,航空航天,汽车电子等多种领域;
IT8900系列 高性能大功率可编程直流电子负载
IT8900系列
IT8900系列 高性能大功率可编程直流电子负载提供150V/600V/ 1200V三种电压范围,支持主从并联,可将功率扩展至600KW。50KHz高速测量、六种工作模式、以及瞬间过功率加载能力、CV环路速度可调节功能、Measure量测功能、25KHz动态测试等多种精准量测功能,使IT8900能满足各种大功率测试需求。IT8900系列 高性能大功率可编程直流电子负载内置LAN/USB/RS232/GPIB通讯接口,广泛应用于电源供应器,动力电池、直流充电桩、发电机、军工航天等多种领域。
IT8700系列 多路输入可编程直流电子负载
IT8700系列
IT8700系列 多路输入可编程直流电子负载采用可抽换式模块化设计,单机框可达8个通道,扩展机框可达16通道。用户可根据通道数和功率需求在8款负载模组中自由选配,通过主机框控制面板控制或通过内置LAN/RS232/USB/GPIB等接口,由上位机软件进行控制。具有斜率可调、list带载波形编辑的功能、自动测试等功能,IT8700系列 多路输入可编程直流电子负载可应用于多路或单路输出的AC/DC、DC/DC电源转换器、充电器等电源类电子元器件性能的测试,也可应用于ATE测试系统、太阳能电池、LED、通讯测试、航空航天等领域。
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